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NHJ2半导体式表面污染测量仪用于测量α、β和γ，采用硅半导体探测器。该仪表小巧轻便且探测效率高，且具有自检、通信、存储等丰富的功能。
半导体式表面污染测量仪特性：
l 采用半导体探测器，不需定期交换探测器，经济
l 量程宽，精度高，测量范围为 0.00 min-1-99.99 kmin-1
l 采用彩色有机EL显示屏
l 其画面明亮且宽视角，易于目视
l 测量值和时间可保存1200点
l 具有自我诊断功能
l 测量值可通过 USB 接口存储到计算机
技术规格：
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测定射线 |
α 射线、β 射线、γ 射线 |
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探测器 |
硅半导体 |
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显示范围 |
0.00min- 1 - 99.99 kmin- 1 0count - 9999.99 kcount- 1 0.0μSv/h - 999.99 mSv/h (γ 剂量率) |
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探测效率 |
α射线 241Am 20% β射线 36Cl 25 %，90Sr-90Y 30 % |
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时间常数 |
1、3、10 秒，自动 |
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趋式数据存储 |
1200 点 |
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数据输出 |
USB 接口 |
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电池寿命 |
连续显示6个小时以上 |
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间歇显示 |
7 小时以上 (5分钟当中显示1分) |
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电源 |
5号碱性电池6节 镍氢充电式电池6节（另选） AC 100 V ~ 240 V，AC 适配器（另选） |
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工作温度 |
-5 ℃ ~ +45 ℃ / 23 ˚F - 113 ˚F |
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工作湿度 |
≤ 90 %RH，（无结露） |
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尺寸 |
120(W)×56(H)×293(D) mm |
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质量 |
约0.75 kg / 1.65 lb. （不含电池） |
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依据标准 |
IEC 60325 (2002)，JIS Z 4329 (2004) |
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